18721931244,18913087693
技術(shù)文章
Technical articles1、HD-175型活度計(jì)技術(shù)指標(biāo)
l 測(cè)量核素:190個(gè);
l 相對(duì)基本誤差:±2.2%;
l 長(zhǎng)期穩(wěn)定性:±0.12%;
l 分辨率:1KBq(0.03μCi);
l 重復(fù)性:±0.12%;
l 量程:3.7KBq—370GBq;
l 低能探測(cè)限:13KeV;
l 測(cè)量時(shí)間:1-13s,可連續(xù)測(cè)量。
2、高壓電離室結(jié)構(gòu)特點(diǎn)
l 電離室坪斜:0.008%;
l 噪聲電流:±2×10-14 A;
l 噪聲本底(60Co):1KBq。
3、單片機(jī)配置型
l 單片機(jī)、液晶屏、12位A/D;
l 232口與Pc機(jī)通訊、寬行高速微打;
l 核素活度、遞衰活度及半衰期測(cè)量;
l 監(jiān)督源校正、時(shí)間換算和參數(shù)查詢;
l 自動(dòng)換檔和扣除本底。
4、Pc機(jī)配置型
l Pc機(jī)、12位A/D;
l 核素活度和遞衰活度測(cè)量;
l 監(jiān)督源校正、時(shí)間換算和參數(shù)查詢;
l 半衰期測(cè)量和誤差計(jì)算;
l 最小二乘法計(jì)算斜率、截距和標(biāo)準(zhǔn)偏差。
5、靈敏度和井深軸向曲線